优尔鸿信检测实验室配有场发射扫描电镜、钨丝灯扫描电镜、FIB聚焦离子束、工业CT、超声波C-SAM等电子元件及半导体检测设备，可针对电子元件，半导体部件进行质量检测和失效分析服务。
PCB分层时间是一个描述PCB板层间结合强度随时间变化的参数，通过热应力测试、机械应力测试、环境适应性测试和化学腐蚀测试等方法来评估PCB的分层风险。对于评估PCB的可靠性和耐久性具有重要意义。

服务项目检测指标
◆ RoHS 1.0
◆ RoHS 2.0
铅,汞,镉,六价铬,,醚,邻苯二甲酸二(2-乙基己基)酯,邻苯二甲
酸二丁酯,邻苯二甲酸丁苄酯,邻苯二甲酸二异丁酯(Pb, Hg, Cd, Cr(Ⅵ),
PBBs ,PBDEs ,DEHP, DBP, BBP, DIBP)
◆REACH高度关注物质测试（SVHC） 
◆REACH附录十七受限物质测试
◆元素含量
MetalElementsanalysis
镉铅汞铬银锗锡镍铁铝钾钙钡…
(Cd,Pb, Hg, Cr(Ⅵ), Ag, Ge, Sn, As, Ni, Fe, Al, K, Ca, Ba…)
◆镍释放量Nickel Release 镍释放量
◆全氟化合物
Perfluoro Compounds 及盐类(PFOS),全氟辛酸及盐类(PFOA)
◆阻燃剂Flame Retardants 四溴双酚A,多氯化萘,多氯三联苯,,短链氯化石蜡,…
(TBBPA, PCNs,PCTs,PCBs, SCCPs…)
◆多环芳烃PAHS 苯并[α]芘,苯并[e]芘,萘…15 PAHs总量(Benzo [α] pyrene, Benzo [e] pyrene,
Naphthalene…Sum15 PAHs )
◆卤素含量Halogen content: 氟(F),氯(Cl),溴(Br),碘(i)
◆NoweyPoHS管控物质中链氯化石蜡(MCCP),全氟辛酸(PFOA),(Pentachlorophenol),铅及其
化合物(Pb and its compounds)…
◆电池Battery 镉、铅、汞(Cd,Pb, Hg… )
◆持久性**物(POPs) ,多氯化萘,双酚A,等(PCBs, PCNs, BPA,PFOS…)
◆离子污染物(Ion contamination) 氟离子(F-)、氯离子(Cl-)、溴离子(Br-)、硝酸根离子

PCB沾锡能力测试目的：
PCB沾锡能力测试是对Dip、SMT电子组件、PCB板、锡膏的焊锡情况进行分析。通过这一测试，可以判断焊接过程中是否会出现焊接不良、虚焊、冷焊等问题，从而确保PCB的焊接质量符合产品标准和客户要求。
PCB沾锡能力测试方法
1.锡球法：主要用于测试SMT（表面贴装技术）零件的可焊性。在此方法中，将焊锡球放置在焊盘上，然后通过加热使焊锡球熔化并润湿焊盘。观察焊锡球是否完全覆盖焊盘，以及润湿情况，从而判断焊盘的可焊性。
2.锡槽法：主要用于测试PTH（通孔技术）零件的可焊性。将PCB板垂直放入预设温度的焊锡槽中，保持一定时间后取出。观察通孔的沾锡情况，包括通孔内壁是否均匀覆盖焊锡，以及焊锡是否填满通孔等。
PCB沾锡能力测试参考标准：
IEC 60068-2-69-2007
IPC J-STD-002C-2007
IPC J-STD-003B-2007
优尔鸿信检测
以客户为中心，为客户提供全面PCB板检测服务。
实力：隶属于世界**企业；
正规：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质；
项目：STM实验室提供从原物料到PCBA的全面的SMT检测服务；
精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性；
快速：3工作日完成报告，打破业内规则。
PCB焊锡能力检测目标：
PCB焊锡能力检测是对DIP、SMT电子元件、PCB板、锡膏的焊接状态进行研究分析。通过这一测试，可以检测在焊接过程中是否出现焊接缺陷、虚焊、冷焊等情况，从而确保PCB的焊接质量满足产品标准和客户需求。
PCB焊锡能力检测方法
1.锡球法：主要用于评估SMT（表面贴装技术）部件的可焊性。在此方法中，将焊锡球放置在焊盘上，然后通过加热使焊锡球熔化并润湿焊盘。观察焊锡球是否完全覆盖焊盘，以及润湿状况，从而判断焊盘的可焊性。
2.锡槽法：主要用于检验PTH（穿孔技术）部件的可焊性。将PCB板垂直放入预设温度的焊锡槽中，保持一定时间后取出。观察通孔的沾锡情况，包括通孔内壁是否均匀覆盖焊锡，以及焊锡是否填满通孔等。
PCB沾锡能力测试的目的与方法
PCB沾锡能力测试，是一种用于分析Dip、SMT电子组件、PCB板和锡膏的焊锡情况的方法。通过这一测试，我们可以判断焊接过程中是否存在焊接不良、虚焊、冷焊等问题，从而确保PCB的焊接质量满足产品标准和客户需求。
PCB沾锡能力测试方法
主要是两种方法来进行PCB沾锡能力测试：
1. 锡球法：这种方法主要用于测试SMT（表面贴装技术）零件的可焊性。在这个方法中，我们将焊锡球放置在焊盘上，然后通过加热使焊锡球熔化并润湿焊盘。我们会观察焊锡球是否完全覆盖焊盘，以及润湿的情况，从而判断焊盘的可焊性。
2. 锡槽法：这种方法主要用于测试PTH（通孔技术）零件的可焊性。我们将PCB板垂直放入预设温度的焊锡槽中，保持一段时间后取出。我们会观察通孔的沾锡情况，包括通孔内壁是否均匀覆盖焊锡，以及焊锡是否填满通孔等。

聚焦离子束（Focused Ion Beam，简称FIB）是一种的材料加工和分析技术，广泛应用于材料科学、半导体制造、生物学等多个领域。FIB设备通过将高能离子束聚焦到样品表面，进行微纳加工和分析。其结合了聚焦离子束（FIB）和扫描电子显微镜（SEM）的功能，形成了FIB-SEM技术，实现对材料微观结构的高分辨成像、局部取样和三维重建。、
FIB的用途
FIB设备中的离子源产生高能离子束，常见的离子源是液态金属离子源（LMIS），尤其是使用Ga⁺离子的显微镜应用。通过电场和磁场的控制，离子束被聚焦并扫描到样品表面。
样品加工：
高能离子束与样品表面相互作用，通过溅射效应去除样品表面的原子，实现纳米级加工。
离子束还可以用于诱导沉积，在样品表面沉积特定材料。
成像和分析：
同时，FIB设备通常配备扫描电子显微镜（SEM），用于对样品进行高分辨率成像。
通过捕获二次电子等信号，SEM可以获取样品表面的形貌信息。
FIB在失效分析中的应用
芯片截面分析：
FIB可以以纳米级的精度对芯片进行截面切割，发现芯片内部的结构缺陷。
结合SEM成像，可以清晰观察芯片内部的层次结构和材料分布。
电路修改和修复：
FIB技术可用于电路的修改，如切断故障电路、沉积新材料修复电路等。
这在PCB板的失效分析和修复中具有重要意义，特别是对于复杂的多层PCB板。
TEM样品制备：
TEM（透射电子显微镜）需要薄的样品，通常约为100纳米或更薄。
FIB设备可以选择样品上的特定区域，进行纳米级切割，制备满足TEM要求的样品。
三维重构：
利用FIB-SEM技术，可以对样品进行连续切片和成像，构建样品的三维模型。
这有助于更深入地了解样品的内部结构和性能。
优尔鸿信检测
以客户为中心，为客户提供全面的PCB板检测服务。
实力：隶属于世界**企业；
正规：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质；
精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性；
快速：3工作日完成报告，打破业内规则；
经验丰富：长期从事电子产品及零部件检测服务。
PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB板表面绝缘性能的检测方法。在PCB的制造和组装过程中，由于绝缘层的质量对于防止电气故障具有至关重要的作用，因此它被广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等多个领域。
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