优尔鸿信检测隶属于富士康,量测实验室配备有大量不同型号之三坐标测量机、非接触式影像测量仪、蓝光/激光扫描仪、白光干涉仪等宏观微观尺寸检测设备，并获得CNAS资质证书，为集团内部和外部客户提供各个产品生产制程之尺寸检测、验证，协助管控生产加工质量。
尺寸检测出来常规的检测方式如三坐标测量机、激光影像测量机、3D扫描仪均用于测量一般宏观尺寸（微米级），除了上述尺寸测量方式，还有一些规尺寸测量方式，一般用于高精度的微观尺寸测量，如下：
3D白光干涉仪：用于微观尺寸测量与3D形貌扫描，如缺陷尺寸分析（划痕、白点、表面雾化等），粉末颗粒尺寸测量、产品加工刀纹尺寸测量等。精度可达0.1纳米。
扫描电镜：形貌观察可放大倍率5-100万倍 ，常结合切片测量样品的微观尺寸与形貌。
CT扫描：对于复杂内部结构或不能破坏的零件，普通3D扫描和三坐标测试已经不能满足。工业CT可以获取其三维数字模型，进行尺寸分析、截面比对以及逆向工程。

表面粗糙度（surface roughness）指的是加工表面具有的较小间距和微小峰谷的不平度。这些微小的峰谷之间的距离（波距）通常小于1mm，属于微观几何形状误差。表面粗糙度的大小直接影响到表面的光滑程度，即表面粗糙度越小，表面越光滑。
表面粗糙度的测量方式：
干涉法：基于光波干涉的原理，使用干涉显微镜测量反映表面粗糙度的干涉条纹的相关参数。
触针法：使用曲率半径小的金刚石针尖沿被测表面以适宜的压力匀速划行。触针随着表面的峰谷变化而移动，这种微量移动被电子位移传感器捕捉并记录，进而可以输出被测表面的轮廓曲线和相应的粗糙度参数。

尺寸检测的参考标准：
尺寸公差 ASME Y14.5-2009
产品几何量技术规范(GPS)评定圆度误差的方法半径变化量测量 GB/T7235-2004 
评定圆度误差的方法半径变化量测量 ISO 4291-1985
产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 评定表面结构的规则和方法 GB/T 10610-2009
ASME B46.1/ISO 25178-2等

外观尺寸对产品质量的影响
产品的外观尺寸直接影响其使用功能。如零件的尺寸不合适可能导致装配困难或无法装配，进而影响产品的整体性能。
某些产品的尺寸直接关系到其安全性和可靠性。如汽车零部件的尺寸问题可能导致安全隐患，电子产品的尺寸不合适可能影响其散热性能和电路连接。
产品的尺寸也与其耐用性密切相关。不合适的尺寸可能导致产品在使用过程中*损坏或磨损
外观尺寸是产品规格的一部分，它直接反映了产品是否符合设计要求。通过测量和检查外观尺寸，可以验证产品是否达到了预设的规格标准。
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