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    声波扫描 C-SAM 分析-成都检测中心

    声波扫描 C-SAM 分析-成都检测中心

    更新时间：2025-02-17   浏览数：3182
    所属行业：商务服务 咨询服务
    发货地址：四川省成都  
    产品数量：1000.00件
    价格：面议
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     C-SAM是利用声波脉冲探测样品内部空隙等缺陷的仪器，主要用于观察组件内部的芯片粘接失效、分层、裂纹、夹杂物、空洞等。 

 
扫描模式 

*传输时间测量模式(A-Scan) 

*表面及横向截面扫描模式(C-Scan) 

*纵向截面成像模式(B-Scan) 

*透射扫描(T-Scan,限15MHz/30MHz探头)

    http://cdfoxconn.cn.b2b168.com