优尔鸿信，多年从事电子产品及半导体检测服务，机构的电子元件检测实验室配备有FIB聚焦离子束、扫描电镜、工业CT、超声波C-SAM等**设备，可提供电子产品、电子元器件、半导体零件的质量检测及失效分析。
C-SAM，是一种利用超声波技术检测物体内部结构和缺陷的高分辨率成像设备。
C-SAM超声波扫描原理：
C-SAM利用超声脉冲波探测产品内部空隙等缺陷。超声波在样品内部传播时，遇到不同密度或弹性系数的物质界面时会产生反射回波。回波被换能器接收并转换为电信号，经过处理后形成图像，显示样品内部的结构和缺陷信息。
C-SAM检测特点
1.非破坏性测试：在检测过程中对样品造成物理损伤，保证了样品的完整性和可重复使用性。
2.高分辨率：能够实现微米级别的分辨率，准确识别样品内部的微小缺陷。
3.多模式扫描：支持C-Scan（表面及横向截面扫描模式）、B-Scan（纵向截面成像模式）等扫描模式。
4.直观成像：直观展示样品内部的结构和缺陷情况，便于分析和判断。
C-SAM超声波检测应用领域：
1.电子行业：在集成电路制造过程中，C-SAM可以检测芯片封装内部的分层、裂纹、空洞等缺陷；
2.半导体行业：C-SAM可用于检测半导体器件，如分立器件芯片、IGBT模组、晶闸管等，通过声波穿过半导体材料的能量损失情况，判断工件的缺陷变化。；
3.汽车工业：对于汽车电子控制单元（ECU）等关键部件，C-SAM可以检测其内部芯片的结构和缺陷；
4.失效分析： C-SAM超声波设备能够检测并定位产品内部的失效点，如焊接不良、分层等，助力产品失效分析。
C-SAM超声波检测以其无损检测、快速、度高、可视化分析、广泛应用、安全性高和灵活性等优势，在现代工业的无损检测领域发挥着重要作用。

PCBA是 Printed Circuit Board +Assembly 的简称，也就是说PCBA是经过PCB空板SMT上件，再经过DIP插件的整个制程。
SMT和DIP都是在PCB板上集成零件的方式，其主要区别是SMT不需要在PCB上钻孔，在DIP需要将零件的PIN脚插入已经钻好的孔中。
SMT（Surface Mounted Technology）表面贴装技术，主要利用贴装机是将一些微小型的零件贴装到PCB板上，其生产流程为：PCB板定位、印刷锡膏、贴装机贴装、过回焊炉和制成检验。
DIP即“插件”，也就是在PCB版上插入零件，这是一些零件尺寸较大而且不适用于贴装技术时采用插件的形式集成零件。其主要生产流程为：贴背胶、插件、检验、过波峰焊、刷版和制成检验
常见的PCBA测试项目有：
外观检查，通过人工检查或自动化视觉检测系统完成。标准上要求无明显、焊锡形状正常、无假焊、空焊、漏焊，元器件无倾斜、偏移、错位。
目的：检查电路板表面是否存在划痕、凹陷、翘曲、污染等外观缺陷。
尺寸测量，使用卡尺、千分尺、三坐标等测量工具进行。
目的：确保电路板尺寸符合设计要求，包括长度、宽度、厚度及焊盘尺寸等。
绝缘性能测试，使用绝缘电阻测试仪、耐电压测试仪等测试仪器进行。
目的：检查电路板的绝缘性能是否达到安全标准，包括绝缘电阻、耐电压等参数。
焊接质量检查，通过切片+显微镜/扫描电镜（破坏性测试）或者X-RAY/CT扫描（无损测试）等仪器进行 。
目的：确保电路板上的焊接点质量符合要求，包括焊接点的外观、焊料的填充情况、焊接点的强度等。
环境适应性测试与寿命测试，使用老化试验箱、高温试验箱等环境可靠性测试设备，检查电路板在长时间工作、高温、高湿等条件下的性能。
目的：评估电路板在长期使用过程中和在不同环境条件下的性能和可靠性，包括高温、低温、湿度、振动、冲击等
离子污染检测（清洁度测试），离子污染可能导致电路板腐蚀和其他问题，因此检测至关重要。
目的：检测来自助焊剂残留、化学清洗剂残留、空气湿度、电镀、波峰焊、回流焊等工艺的离子污染物在PCBA线路板表面的残留情况。
PCBA质量管控的检测项目是一个全面而复杂的过程，需要从多个角度进行考虑，以确保电路板的性能和可靠性，终保证产品质量。

PCB板OSP膜，全称为Organic Solderability Preservatives，即**保焊膜，是印刷电路板（PCB）铜箔表面处理的一种工艺，它通过化学方法在裸铜表面上形成一层**皮膜，用以保护铜表面在常态环境中不生锈、氧化或化。这层膜在焊接过程中又能被助焊剂*，使铜表面与熔融焊锡紧密结合。
PCB板OSP膜具有防氧化、耐热冲击、耐湿性等特性，用于保护铜表面在常态环境中不再继续生锈/氧化/化等。OSP膜薄，通常在几十纳米左右的厚度，因此需要使用的方法来测量其厚度。
PCB板OSP膜厚测试方法：
1.普通切片法X-RAY膜厚仪：对于PCB板表面处理为化镍浸金（ENIG ）、热风整平（HASL）、浸锡（I-Sn）、浸银（I-Ag）等，镀层厚度量测均可以采用X-RAY膜厚仪或者切片方法进行，
量测PCB表面特定区域阻焊膜（绿油、黑油、白油等）厚度，也可以采用切片分析方法；
2.OSP膜厚仪：对于**保焊膜（OSP）厚度量测采用OSP膜厚仪进行。OSP膜厚仪可以量测厚度范围为350A~3μm；可研究单个小范围OSP镀膜，如PAD等；通过对样品特定区域的膜厚度2D分布图谱以确定镀层完整性及均匀性；
3.离子束切割+扫描电镜观察法：这种方法可以准确测量膜层厚度，并观察膜层的均匀度和微观形貌。
每种测试方法都有其特点和适用范围，选择哪种方法取决于具体的测试需求和条件。
优尔鸿信检测
以客户为中心，为客户提供全面的检测和校准服务。
实力：隶属于世界**企业。
：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质。
精益求精：验室采用全进口设备，确保数据准确性。
快速：3工作日完成报告，打破业内规则。

FIB（聚焦离子束，Focused Ion Beam）测试是一种利用聚焦离子束对材料进行微纳加工、成像和分析的技术。它结合了离子束的高精度加工能力和扫描电子显微镜（SEM）的高分辨率成像能力，广泛应用于材料科学、半导体工业、生物科学等领域。
FIB测试的基本原理
离子源：
FIB系统通常使用液态金属离子源（如离子），通过电场将离子加速并聚焦成纳米级束流。
离子束与样品相互作用：
高能离子束轰击样品表面时，会溅射出样品原子（刻蚀）或沉积材料（沉积）。
同时，离子束会激发二次电子或二次离子，用于成像或分析。
成像与分析：
FIB系统通常配备SEM，可同时进行高分辨率成像。
结合EDS、EBSD等附件，可进一步分析样品的成分和晶体结构。
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正规：于2003年获得CNAS初次认可，2018年获得CMA资质；
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经验丰富：长期从事电子产品及零部件检测服务。
PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB板表面绝缘性能的检测方法。在PCB的制造和组装过程中，由于绝缘层的质量对于防止电气故障具有至关重要的作用，因此它被广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等多个领域。
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