优尔鸿信检测SMT实验室，多年从事电子元器件检测服务，实验室配备有多种型号的C-SAM、X-RAY、工业CT等无损检测设备，可提供PCB到PCBA各个环节的检测服务。
切片分析是PCB、 PCBA制程和电子元器件及金属材料及零部件失效分析重要的分析方式之一，通常于抽样做产品质量检验，或产品发生异常不良后，针对问题位置透过电子显微镜量测做取样分析，找出异常原因。
切片技术主要是一种用于检查电子组件、电路板或机构件内部状况、焊接状况的分析手段。通常采用研磨的方法，使内部结构或缺陷暴露出来。 
随着科技水平的发展和工艺的进歩，电子产品越来越微型化、复杂化和系统化，而其功能却越来越强大，集成度越来越高，体积越来越小。切片分析是借助切片分析技术和高倍率显微镜确认电子元器件的失效现象，分析工艺、原材料缺陷。通过显微剖切技术制得的微切片可用于电子元器件结构剖析、检查电子元器件表面及内部缺陷检查。
常用的切片方法有三种：
（1）机械切割，用于将设备劈开或抛光到所需位置，整个模具/封装均可检查；
（2）离子切割，抛光干净，对设备施加力，可以观察到微观结构；（3）双光束FIB切割，可以采取较小的区域，然后使用设置好的SEM进行观察。

PCB分层是指PCB内部各层之间，如铜箔与介质层之间，原本通过粘结剂牢固粘结在一起的部分，在受到外力、温度变化或化学腐蚀等因素的影响下，发生分离的现象。分层会导致电路板的机械强度下降，信号传输受阻，甚至导致电路板失效。
影响PCB分层时间的因素
材料选择：PCB的基材（如环氧树脂）的种类、分子量、交联度等都会影响其层间结合强度，从而影响分层时间。高分子材料的热稳定性、化学稳定性以及机械性能都会对此产生影响。
制造工艺：PCB的制造工艺，如压合温度、压力、时间等，都会直接影响层间结合强度。制造工艺不当可能导致层间结合不良，缩短分层时间。
环境因素：温度、湿度等环境因素也会对PCB的分层时间产生影响。高温、高湿环境可能加速PCB的老化过程，导致层间结合力下降，缩短分层时间。
设计因素：PCB的设计布局、线条宽度、间距等也会影响分层时间。例如，线条间距过小可能导致电磁干扰，增加分层的风险。
PCB分层时间测试方法
热应力测试(TMA法)：通过施加一定的热应力，观察PCB板在不同温度下的分层情况，并记录分层时间。参照标准IPC-TM-650 2.4.24.1。
机械应力测试：对PCB板施加一定的机械应力，如弯曲、扭曲等，观察其分层情况。这种方法可以评估PCB在机械应力作用下的层间结合强度。
环境模拟测试：将PCB置于高温、高湿等恶劣环境中，观察其分层情况。这种方法可以模拟PCB在恶劣环境下的工作状态，评估其环境适应性。

PCB分层时间是一个描述PCB板层间结合强度随时间变化的参数，通过热应力测试、机械应力测试、环境适应性测试和化学腐蚀测试等方法来评估PCB的分层风险。对于评估PCB的可靠性和耐久性具有重要意义。

工业CT无损检测，全称为工业用计算机断层成像技术，能够在不损伤检测对象的前提下，以二维断层图像或三维立体图像的形式，清晰、准确、直观地展示被检测物体内部的结构、组成、材质及缺损状况。利用射线原理，结合的计算机图形学和图像处理技术，实现了对材料、零件、设备的全面检测，被誉为当今的无损检测和无损评估手段。
CT无损检测技术能够深入材料内部，以非破坏性的方式进行全面检查。无论是金属部件还是复合材料，即便是微小至纳米级的缺陷也无所遁形。
电路板组件PCBA是电子设备的核心组件之一，如果PCBA存在缺陷或制造问题，则可能导致终产品出现故障并造成不便。
工业CT可以快速检测出PCBA电路板上的开路、短路、空焊、漏焊等问题，特别是针对**细间距和密度的缺陷电路板。常用于检测BGA（球栅阵列）和QFN（Quad Flat No-Lead）等封装的焊点内部结构，以及装配过程中产生的桥接、芯片缺失、错位等缺陷。
优尔鸿信检测
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PCB板表面绝缘阻抗测试是一种用于评估PCB板表面绝缘性能的检测方法。在PCB的制造和组装过程中，由于绝缘层的质量对于防止电气故障具有至关重要的作用，因此它被广泛应用于电子制造、通信和电源电子设备等多个领域。
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