表面异物凸起失效分析
导读：异物杂质的生成原因比较多，例如原材料不纯、反应有副产物、工艺控制不规范或工艺配方不成熟等。成都检测中心可通过对异物分析，获得其所含的元素、化学成分，再结合客户对产品和工艺的了解找出异物产生的真正原因，帮助客户对配方工艺等的改进调节，进而避免异物的产生。
1、案件信息
客户产品为J64 底盖，其基材为PC/ABS，表面经喷漆处理。现发现该配件出现凸起物。现需分析该配件出现凸起物的原因。 （样品及样品信息由客户提供）
图1 样品图片
备注：由图可知，红框所示位置存在表面凸起物。
2、测试方法
表面观察：3D显微镜观察
材质分析：FTIR
元素分析：SEM+EDS
3 3D显微镜观察
图2 3D显微镜测试图片 （位置一：1、2位置二：3、4）
注：图2与图1中所标位置1、位置2彼此对应。
4、FTIR测试
图3 凸点、表面涂层、基材的FT-IR图谱
▲如图所示，凸点与表面涂层成份相近，均为含氨基甲酸酯基团类化合物；基材成份为PC/ABS。
①凸起物的测试方式为将凸起物取下后，使用反射模式进行测试。
②表面涂层的测试方式为使用全反射（ATR）模式直接测试喷漆表面。
③基材的测试方式为将含涂层的基材取下后，使用反射模式进行测试。
5、SEM&EDS分析
▲试验分析：据图4、图5和图6所示试验验结果可知：凸点与涂层表面所含元素成份无明显差异。
|
Spectrum |
C |
O |
Si |
Total |
|
1 |
52.46 |
45.23 |
2.31 |
100.00 |
|
2 |
57.51 |
38.38 |
4.12 |
100.00 |
|
3 |
57.81 |
34.29 |
7.89 |
100.00 |
All results in weight%
图4 样品正常位置的SEM及EDS测试结果
|
Spectrum |
C |
O |
Si |
Total |
|
1 |
56.26 |
35.72 |
8.02 |
100.00 |
|
2 |
57.28 |
30.53 |
12.19 |
100.00 |
|
3 |
57.77 |
37.29 |
3.94 |
100.00 |
All results in weight%
图5 样品凸点的SEM及EDS测试结果
注：本测试直接取凸起位置进行测试。
|
Spectrum |
C |
O |
Si |
|
1 |
56.26 |
35.72 |
8.02 |
|
2 |
57.28 |
30.53 |
12.19 |
|
3 |
58.77 |
37.29 |
3.94 |
|
4 |
55.30 |
40.59 |
4.11 |
|
5 |
56.66 |
40.85 |
2.49 |
|
6 |
54.96 |
41.33 |
3.71 |
All results in weight%
图6 凸点挑开后的SEM及EDS测试结果
注：本测试为将凸起位置挑开后，进行测试。
结论
（1）由FTIR及EDS测试结果可知，凸起物的主要成分与表面涂层（即油漆）的成份相近，均为含氨基甲酸酯基团的化合物；
（2）表面凸起物可能来源于油漆原料或喷漆制程。